Исследовательская группа из Национального университета Тайваня разработала новый метод электронной микроскопии, который позволяет проводить чувствительные измерения атомного номера (Z) образцов. Это нововведение может значительно улучшить существующие инструменты определения характеристик материалов. Пока новая методика, получившая название электронной микроскопии атомного номера (ZEM), используется для наблюдения за поведением водорода.
Согласно данным исследователей, ZEM использует преимущества своей чувствительности к материалам с низким содержанием Z, таким как водород (Z = 1) и вакансионные дефекты (Z = 0). Эти особенности, которые практически незаметны в обычных электронных микроскопах, теперь можно с удивительной четкостью визуализировать. Главный исследователь работы Чи-Вэй Чанг объясняет, что легкие элементы слабо взаимодействуют с электронами и фотонами. Это, в свою очередь, затрудняет их обнаружение. Но с помощью платформы ZEM им удалось понаблюдать за поведением водорода внутри металлов и даже видеть, как это изменяет материал.
В качестве объекта эксперимента члены команды использовали палладий (Pd). Они обнаружили, что сначала поглощение водорода было неравномерным — прослеживалась тенденция концентрироваться вдоль границ зерен и внутренних дефектов. После нескольких циклов загрузки и выгрузки водорода количество дефектов уменьшилось. Исходя из этого, ученые сделали вывод, что водород может играть определенную роль в ускорении самовосстановления материала.
